发明公开
- 专利标题: 一种堆叠纳米片环栅场效应晶体管及其制造方法
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申请号: CN202410480045.7申请日: 2024-04-19
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公开(公告)号: CN118352363A公开(公告)日: 2024-07-16
- 发明人: 姚佳欣 , 魏延钊 , 王宇 , 张青竹 , 殷华湘
- 申请人: 中国科学院微电子研究所
- 申请人地址: 北京市朝阳区北土城西路3号中国科学院微电子研究所
- 专利权人: 中国科学院微电子研究所
- 当前专利权人: 中国科学院微电子研究所
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北土城西路3号中国科学院微电子研究所
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 柳虹
- 主分类号: H01L27/092
- IPC分类号: H01L27/092 ; H01L29/51 ; H01L21/8238 ; B82Y10/00 ; B82Y30/00 ; B82Y40/00
摘要:
本申请提供一种堆叠纳米片环栅场效应晶体管及其制造方法,衬底具有多个第一掺杂区域和多个第二掺杂区域,第一掺杂区域上方具有堆叠的多个第一半导体层,第二掺杂区域上方具有堆叠的多个第二半导体层;在多个第一半导体层之间和多个第二半导体层之间,具有依次包围的界面氧化层、第一高k介质层、第二高k介质层、隔离层和金属栅;第一高k介质层的静电偶极子的方向,与第二高k介质层的静电偶极子的方向相反;位于第一目标区域内的第一高k介质层的第一厚度,与位于第二目标区域内的第一高k介质层的第二厚度不同,实现CMOS器件多阈值与单种器件多阈值,提高器件多阈值集成的准确度,能够扩大阈值电压的调整范围。