发明授权
- 专利标题: 一种复合绝缘子老化评估装置及方法
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申请号: CN202410796643.5申请日: 2024-06-20
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公开(公告)号: CN118362849B公开(公告)日: 2024-08-16
- 发明人: 尹芳辉 , 李会杰
- 申请人: 清华大学深圳国际研究生院
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋二楼
- 专利权人: 清华大学深圳国际研究生院
- 当前专利权人: 清华大学深圳国际研究生院
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋二楼
- 代理机构: 深圳新创友知识产权代理有限公司
- 代理商 王震宇
- 主分类号: G01R31/12
- IPC分类号: G01R31/12 ; G01R31/20 ; G01R27/26 ; G01R19/00
摘要:
本发明提供一种复合绝缘子老化评估装置及方法,该装置包括电导损耗测试模块、介电损耗测试模块以及计算分析单元,所述电导损耗测试模块用于测量复合绝缘子样品的电导损耗参数,所述介电损耗测试模块用于测量复合绝缘子样品的介电损耗参数,所述计算分析单元用于根据所述电导损耗参数和所述介电损耗参数计算分析复合绝缘子样品的老化程度。本发明的复合绝缘子老化评估装置及方法能够实现对复合绝缘子老化程度的快速、准确、直观的评估,具有操作简便、结果可靠、无损检测等优点,为绝缘子老化状态评估和电力系统维护提供了有力的技术支持。
公开/授权文献
- CN118362849A 一种复合绝缘子老化评估装置及方法 公开/授权日:2024-07-19