发明授权
- 专利标题: 一种金属钴薄膜及其制备方法
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申请号: CN202410813360.7申请日: 2024-06-24
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公开(公告)号: CN118374791B公开(公告)日: 2024-10-25
- 发明人: 张博 , 时秋伟
- 申请人: 南京原磊纳米材料有限公司
- 申请人地址: 江苏省南京市江北新区浦云路266号青云大厦B栋22层
- 专利权人: 南京原磊纳米材料有限公司
- 当前专利权人: 南京原磊纳米材料有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市江北新区浦云路266号青云大厦B栋22层
- 代理机构: 北京弘权知识产权代理有限公司
- 代理商 金伟
- 主分类号: C23C16/44
- IPC分类号: C23C16/44 ; C23C16/455 ; C23C16/06
摘要:
本申请提供一种金属钴薄膜及其制备方法,涉及半导体技术领域。本发明方法是将衬底放入内腔体后,以CVD与ALD同时进行的方式使钴源和反应气体发生反应,在衬底上沉积金属钴薄膜。本申请还提供了一种喷淋组件,能够将钴源与还原性气体在沉积前进行充分扩散和混匀,减少反应区域的不均匀性和气相扩散效应对沉积均匀性的影响,改善沉积薄膜的膜厚均匀性。本申请将CVD方式和ALD方式结合,相比单独的ALD沉积方式金属钴薄膜生长速率高,相比单独的CVD方式制得的钴薄膜生长方式均匀性稳定且具有较低的膜层电阻率。
公开/授权文献
- CN118374791A 一种金属钴薄膜及其制备方法 公开/授权日:2024-07-23
IPC分类: