- 专利标题: 一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法
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申请号: CN202410865082.X申请日: 2024-07-01
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公开(公告)号: CN118392324B公开(公告)日: 2024-10-15
- 发明人: 谷牧 , 李素钧 , 周金梅 , 任栖锋 , 赵旭龙 , 王宇 , 廖胜
- 申请人: 中国科学院光电技术研究所
- 申请人地址: 四川省成都市人民南路四段九号
- 专利权人: 中国科学院光电技术研究所
- 当前专利权人: 中国科学院光电技术研究所
- 当前专利权人地址: 四川省成都市人民南路四段九号
- 代理机构: 北京科迪生专利代理有限责任公司
- 代理商 尹莹莹
- 主分类号: G01J5/53
- IPC分类号: G01J5/53 ; G01J5/02 ; G01J5/08 ; G01J5/04
摘要:
本发明公开了一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法,涉及红外系统辐射测量领域,该方法包括:步骤1,背景板和黑体图像采集策略:待黑体温度稳定后,变换衰减片,依次变换积分时间档位,采集黑体图像;黑体图像采集完后,切至背景板,采集背景图像;步骤2,建立背景扣除的红外辐射定标模型;步骤3,根据步骤2建立的背景扣除的红外辐射定标模型,执行背景扣除的红外辐射测量策略。根据本发明技术方案,通过扣除背景的方法,降低了内部杂散辐射对目标灰度的影响,使得测量精度更高。
公开/授权文献
- CN118392324A 一种基于背景板扣除内部杂散辐射的红外辐射测量方法 公开/授权日:2024-07-26