本发明提出了一种基于结温的IGCT变流器寿命优化控制方法及系统，对IGCT芯片进行实时结温监测，结合模型预测控制，预测下一采样时刻的输出电流，通过预测的输出电流，结合电流参考值、IGCT变流器采样时的开关状态以及未来开关状态，以代价函数最小对应的开关状态对IGCT变流器进行控制，可有效解决因变流系统长期处于大电流运行工况引起的结温持续升高，从而使IGCT芯片的使用寿命降低的问题，最大程度地延长变流器的使用寿命，减少设备故障和停机时间，提高系统的运行可靠性。