本发明实施例公开了一种基于高光谱成像技术的绝缘子表面污秽水分含量的可视化方法，该方法包括以下步骤：S1、制备受污染的测试样品；S2、搭建高光谱成像平台及高压试验平台，将测试样品接通在所述高压试验平台；S3、测量测试样品的水分含量并通过所述高光谱成像平台获取测试样品的高光谱图像；S4、对从步骤S3中获取的高光谱图像进行处理，高光谱三维数据由一维光谱信息（λ）和二维空间信息（x，y）组成，对于测试样品，其有效特征包含于少数特征波段中，基于所述特征波段内的低维数据，采用偏最小二乘回归提出水分含量定量求解模型，最后，通过伪彩色处理实现测试样品的水分含量的定量可视化反演。