- 专利标题: 存储器的可靠性测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品
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申请号: CN202410824841.8申请日: 2024-06-25
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公开(公告)号: CN118430632A公开(公告)日: 2024-08-02
- 发明人: 韩立帅 , 胡凛 , 李家辉
- 申请人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 申请人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 代理机构: 华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 黄晓庆
- 主分类号: G11C29/56
- IPC分类号: G11C29/56 ; G11C29/08
摘要:
本申请涉及一种存储器的可靠性测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品。方法包括:响应于针对目标存储器的可靠性测试指令,对目标存储器进行质量分析,得到目标存储器的质量分析结果;在质量分析结果表征目标存储器质量达标的情况下,对目标存储器的当前测试环境进行环境更新,得到目标测试环境;在目标测试环境下,对目标存储器进行功能测试,得到目标存储器的第一功能测试结果;根据第一功能测试结果,对目标存储器进行可靠性评估,得到目标存储器的可靠性评估结果。采用本方法能够提高随机存储器可靠性测试的准确性。