Invention Publication
- Patent Title: 一种金属化薄膜电容器多参量寿命评估方法
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Application No.: CN202410633144.4Application Date: 2024-05-21
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Publication No.: CN118444059APublication Date: 2024-08-06
- Inventor: 张传升 , 邵涛 , 孙昊 , 曹轩赫
- Applicant: 中国科学院电工研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区中关村北二条6号
- Assignee: 中国科学院电工研究所
- Current Assignee: 中国科学院电工研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区中关村北二条6号
- Agency: 北京科迪生专利代理有限责任公司
- Agent 孔伟
- Main IPC: G01R31/00
- IPC: G01R31/00 ; G01R27/26 ; G16C20/10 ; G16C20/70

Abstract:
本发明提供一种金属化薄膜电容器多参量寿命评估方法,金属化薄膜电容器在直流与短时过电压脉冲叠加的复杂环境下,易造成金属化膜的劣化与容值损失等现象。目前寿命评估方法不适用于脉冲叠加直流电场及高温下的寿命预测,导致金属化薄膜电容器预测寿命与实际寿命偏差较大的问题。本发明在于提供一种基于多参量的金属化薄膜电容器寿命预测方法,该方法考虑外部电场、温度、物质所导致的老化机制,可解决预测寿命与实际寿命偏差较大的问题,助力制定合理的薄膜电容器退役计划,减小电力设备的故障率。
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