发明公开
- 专利标题: 显微镜和用于显微镜检查的方法
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申请号: CN202280084832.9申请日: 2022-11-21
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公开(公告)号: CN118451353A公开(公告)日: 2024-08-06
- 发明人: T·安胡特 , D·施韦特 , M·瓦尔德
- 申请人: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
- 申请人地址: 德国耶拿
- 专利权人: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
- 当前专利权人: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
- 当前专利权人地址: 德国耶拿
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 王蕊瑞
- 优先权: 102021134427.1 20211222 DE
- 国际申请: PCT/EP2022/082544 2022.11.21
- 国际公布: WO2023/117236 DE 2023.06.29
- 进入国家日期: 2024-06-20
- 主分类号: G02B21/00
- IPC分类号: G02B21/00 ; G02B21/36 ; G02B21/18
摘要:
本发明涉及一种显微镜,其具有:照明光束路径,其具有用于照明样品的照明控制装置;检测光束路径,用于将辐射的发射光引导向相机并且具有用于控制照明控制装置和相机的控制单元,其中控制单元被设计成使相机的传感器表面的待读取区域与激发光的位置同步,该位置由照明控制装置限定;并且在检测光束路径中具有图像分离器单元,用于将发射光分成多个部分光束路径,每个部分光束路径在相机的传感器表面上产生样品的部分图像,其中部分图像彼此相邻,使得部分图像中的线性区域位于传感器表面的相同的一条线或多条线上,该区域对应于由照明控制装置在样品上或样品中限定的激发光的位置。