发明公开
- 专利标题: 一种钼铜载体表面共晶焊料制备方法
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申请号: CN202410398820.4申请日: 2024-04-03
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公开(公告)号: CN118478138A公开(公告)日: 2024-08-13
- 发明人: 陈帅 , 赵文忠 , 张飞 , 刘志丹 , 赵志平
- 申请人: 中国电子科技集团公司第二十研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市雁塔区白沙路1号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第二十研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第二十研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市雁塔区白沙路1号
- 代理机构: 工业和信息化部电子专利中心
- 代理商 袁鸿
- 主分类号: B23K35/40
- IPC分类号: B23K35/40 ; B23K35/02 ; C23C14/34 ; C23C14/16
摘要:
本发明提出了一种钼铜载体表面共晶焊料制备方法,包括:对钼铜载体的表面进行预处理;将钼铜载体置于物理气相沉积设备中,物理气相沉积Cr薄膜与Cu薄膜;将当前钼铜载体表面物理气相沉积Au80Sn20焊料,其中沉积方式为Au靶与Sn靶共溅射;将钼铜载体翻面,放置于物理气相沉积设备中,于钼铜载体的另一面物理气相沉积Ni薄膜与Au薄膜。本发明采用在物理气相沉积的方式,在钼铜载体表面制作了Au80Sn20焊料,可提供预制了焊料的热沉载体,焊料可焊性良好,膜层光亮致密;并且,本发明简化了GaAs/GaN芯片共晶焊接工艺流程,共晶焊接过程中不再需要放置焊料并控制其位置,完成了GaAs/GaN芯片共晶的共晶模块可继续进行钎焊工艺。
IPC分类: