发明公开
- 专利标题: 一种永磁轴承工作特性参数测试装置
-
申请号: CN202410603275.8申请日: 2024-05-15
-
公开(公告)号: CN118565830A公开(公告)日: 2024-08-30
- 发明人: 唐长亮 , 木孟良 , 陈涛
- 申请人: 北京信息科技大学
- 申请人地址: 北京市海淀区清河小营东路12号
- 专利权人: 北京信息科技大学
- 当前专利权人: 北京信息科技大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清河小营东路12号
- 代理机构: 北京卓泽知识产权代理事务所
- 代理商 李国华
- 主分类号: G01M13/045
- IPC分类号: G01M13/045 ; G01B21/02 ; G01B21/04
摘要:
本发明涉及一种永磁轴承工作特性参数测试装置,其包括:支架中的定位导向柱的两端分别固定在上支撑板和下支撑板的两侧,定位导向柱与上支撑板一侧通过紧固导柱进行固定;位于下称支撑板的一侧设置有导柱,位于下称支撑板的底部两侧设置有支撑板垫板;被测永磁轴承安装部件设置在支架内,通过调节支撑部件安装在上支撑板上;软磁体部件位于被测永磁轴承安装部件的下方,其底部与软磁体支撑部件连接,软磁体支撑部件的底部安装在下支撑板的中心位置处;激振部件一端设置在导柱上,另一端位于软磁体部件内;丝杠驱动部件一端设置在导柱上,另一端与软磁体部件的侧部接触;测量部件设置在被测永磁轴承安装部件上,用于测量被测永磁轴承的位移。