本发明公开了一种利用聚乳酸晶胞生长变化预测聚乳酸剩余寿命的方法，在预设温度下对待测聚乳酸样品进行X射线衍射测试，获取衍射图谱数据，通过预先构建预设温度下的老化时长预测模型，以确定晶胞尺寸与老化时长的关联关系，通过X射线衍射测试获取衍射图谱数据来判断晶胞尺寸，进而计算出老化时长，再根据该预设温度下聚乳酸的完整寿命，计算与老化时长的差值，得到剩余寿命。本发明不需要对样品进行结构上的破坏即可准确估算出剩余寿命，且能够被推广到任意温度，减少重复实验，提高预测效率。