本申请涉及数字集成电路板测试技术领域，具体涉及一种用于数字集成电路板的快速测试方法及系统，该方法包括：获取数字集成电路板测试点的电压数据，并划分为多个电压跳变子序列；基于各电压跳变子序列中电压数据的波动情况以及各电压跳变子序列中电压数据的跳变偏差情况，得到各电压跳变子序列的电磁干扰系数；基于各电压跳变子序列中电压数据的变化程度以及各电压跳变子序列在频域中的频率变化，得到各电压跳变子序列的静电受扰系数，进而得到各测试点的评价因子，计算数字集成电路板的电磁容忍度，结合预设兼容阈值，判断数字集成电路板的测试结果。本申请可实现对电路板的快速测试，提高测试的精度。