发明公开
- 专利标题: 一种对导引头电子舱老化筛选的方法及装置
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申请号: CN202411035267.4申请日: 2024-07-31
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公开(公告)号: CN118568580A公开(公告)日: 2024-08-30
- 发明人: 彭友铭 , 王荣梅 , 张亚轩
- 申请人: 北京国科欣翼科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区知春路63号51号楼5层508
- 专利权人: 北京国科欣翼科技有限公司
- 当前专利权人: 北京国科欣翼科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区知春路63号51号楼5层508
- 代理机构: 北京市恒有知识产权代理事务所
- 代理商 赵薇; 刘伟冲
- 主分类号: G06F18/2411
- IPC分类号: G06F18/2411 ; G01R31/56 ; G06F18/213 ; G06F18/10
摘要:
本发明公开了一种对导引头电子舱老化筛选的方法及装置,属于电数字数据处理领域,该方法包括以下步骤:通过测试接口自动获得传感器的测量数据进行数据预处理,得到预处理后的测量数据,通过预处理后的测量数据建立温度老化模型,导引头电子舱老化预测模型,将导引头电子舱老化预测模型的预测结果进行记录并与真实结果进行对比,将导引头电子舱的老化状态以可视化的方式呈现给用户,通过界面展示导引头电子舱的老化状态。本发明通过实时捕获导引头电子舱的各项参数数据并利用支持向量机算法进行数据处理和分析技术,达到了多方面进行导引头电子舱老化筛选,解决了现有技术中导引头电子舱老化筛选不准确的问题。