发明公开
- 专利标题: 面向等离子体金属部件原位再结晶程度的测量方法
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申请号: CN202410761840.3申请日: 2024-06-13
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公开(公告)号: CN118583681A公开(公告)日: 2024-09-03
- 发明人: 朱大焕 , 何春宇 , 王保国 , 訾鹏飞 , 丁锐 , 陈俊凌
- 申请人: 中国科学院合肥物质科学研究院
- 申请人地址: 安徽省合肥市庐阳区三十岗乡古城路181号
- 专利权人: 中国科学院合肥物质科学研究院
- 当前专利权人: 中国科学院合肥物质科学研究院
- 当前专利权人地址: 安徽省合肥市庐阳区三十岗乡古城路181号
- 代理机构: 北京科迪生专利代理有限责任公司
- 代理商 李薇
- 主分类号: G01N3/40
- IPC分类号: G01N3/40 ; G01N33/20 ; G01N33/2028 ; G01N33/204
摘要:
本发明公开了一种面向等离子体金属部件原位再结晶程度的测量方法,涉及磁约束聚变工程技术领域。该方法为:在磁约束聚变实验装置维护期间,通过便携式硬度仪获取装置内部面向等离子体金属部件表面的原位硬度分布,结合相同部件在不同角度下完全再结晶和完全无再结晶情况下的硬度测量值,获得归一化再结晶程度参数X,通过对不同位置及实验前后的再结晶程度测量,可以获得装置面向等离子体部件表面再结晶程度分布及演化情况。本发明利用面向等离子体金属部件表面材料原位硬度变化特征准确获取托卡马克面向等离子体部件各位置的再结晶程度,为评估面向等离子体部件的服役整体性能和寿命提供了可靠的数据参考。