Invention Grant
- Patent Title: 一种使用X射线检测物料缺陷的系统及方法
-
Application No.: CN202411069628.7Application Date: 2024-08-06
-
Publication No.: CN118583897BPublication Date: 2024-10-29
- Inventor: 刘登攀
- Applicant: 深圳市艾兰特科技有限公司
- Applicant Address: 广东省深圳市宝安区松岗街道潭头社区广深路松岗段2号厂房2栋3楼B区、3栋3楼
- Assignee: 深圳市艾兰特科技有限公司
- Current Assignee: 深圳市艾兰特科技有限公司
- Current Assignee Address: 广东省深圳市宝安区松岗街道潭头社区广深路松岗段2号厂房2栋3楼B区、3栋3楼
- Agency: 北京萤火虫知识产权代理事务所
- Agent 田亚飞
- Main IPC: G01N23/04
- IPC: G01N23/04
Abstract:
本发明涉及物料缺陷检测技术领域,公开了一种使用X射线检测设备缺陷的系统及方法,该系统包括:上料机、检测机和下料机。上料机和下料机分别与生产线的输送带相连接,其中,上料机用于接收输送带传输的待检测的物料,并将物料传输至检测机,下料机用于接收检测后的物料,并将物料传输至输送带。检测机设置在上料机与下料机之间的,检测机与上料机和下料机之间相连接,检测机用于对待检测的物料进行检测。本发明通过高效的模块化设计和自动化流程,大幅度提升了物料缺陷检测的效率和精度。自动化的上料、检测、下料过程减少了人工干预,提高了生产线的整体生产力。通过精准的X射线检测和详细的缺陷分析,有效的提升了产品质量控制的能力。
Public/Granted literature
- CN118583897A 一种使用X射线检测物料缺陷的系统及方法 Public/Granted day:2024-09-03
Information query