本发明提供一种安全芯片的算法测试方法、装置和系统，属于计算机技术领域。方法包括：响应于算法测试参数配置指令，获取待测安全芯片的算法测试参数；生成与算法测试参数匹配的测试数据；发送测试数据和算法测试参数至待测安全芯片，以及接收待测安全芯片基于测试数据和算法测试参数执行算法测试的第一测试结果；从算法库和国密资质卡中确定与算法类型匹配的目标测试主体，以及获取目标测试主体基于测试数据和算法测试参数执行算法测试的第二测试结果；基于第一测试结果和第二测试结果的对比结果，确定算法测试结果。本发明解决现有安全芯片的算法测试方法存在测试的算法类型较少、测试算法类型的覆盖率较低，无法保证测试结果的正确性的问题。