发明公开
- 专利标题: 结合内标与强度比漂移值来提高LIBS测量长期稳定性的方法
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申请号: CN202410371878.X申请日: 2024-03-29
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公开(公告)号: CN118603965A公开(公告)日: 2024-09-06
- 发明人: 孙兰香 , 周洋 , 李洋 , 于海斌 , 辛勇 , 张鹏 , 陈彤
- 申请人: 中国科学院沈阳自动化研究所
- 申请人地址: 辽宁省沈阳市沈河区南塔街114号
- 专利权人: 中国科学院沈阳自动化研究所
- 当前专利权人: 中国科学院沈阳自动化研究所
- 当前专利权人地址: 辽宁省沈阳市沈河区南塔街114号
- 代理机构: 沈阳科苑专利商标代理有限公司
- 代理商 周宇
- 主分类号: G01N21/71
- IPC分类号: G01N21/71 ; G16C20/30 ; G16C20/70 ; G06F18/214
摘要:
本发明涉及光谱分析领域,具体是一种结合内标与强度比漂移值提高LIBS测量长期稳定性的方法。具体步骤为:(1)光谱采集。基于激光诱导击穿光谱LIBS技术长时间采集光谱数据;(2)数据集划分。将数据划分为训练集和测试集;(3)基于训练集数据采用平均光谱估计期望光谱,采用期望光谱建立元素浓度或浓度比与元素特征谱线强度比的内标模型;(4)由步骤(3)内标模型得到基准强度比,根据基准强度比计算强度比漂移值;(5)对光谱及光谱对应的强度比漂移值进行建模;(6)优化模型参数,得到强度比漂移值的模型。最终用于预测未知元素浓度预测,本发明方法结合内标与强度比漂移值提高LIBS测量长期稳定性,可实际应用于提高LIBS测量长期稳定性。