发明公开
- 专利标题： 一种电磁超声与漏磁复合检测装置及方法
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申请号： CN202410682161.7申请日： 2024-05-29
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公开(公告)号： CN118624860A公开(公告)日： 2024-09-10
- 发明人: 郑德智 , 袁杰 , 胡纯 , 王震 , 陈敏泽 , 杨云博
- 申请人： 北京理工大学
- 申请人地址： 北京市海淀区中关村南大街5号
- 专利权人： 北京理工大学
- 当前专利权人： 北京理工大学
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区中关村南大街5号
- 代理机构： 北京正华智诚专利代理事务所
- 代理商 陈航
- 主分类号： G01N33/2045
- IPC分类号： G01N33/2045
摘要：
本发明公开了一种电磁超声与漏磁复合检测装置及方法，包括一个永磁体、正交蝶形线圈、三轴霍尔传感器、漏磁信号调理及数据采集电路、信号发生器、功率放大器、双工器和信号放大器。本发明充分利用电磁超声与漏磁检测技术的优势，实现了金属试件表面缺陷和内部缺陷的同时检测，还实现了金属试件厚度的测量。且采用了单永磁体结构，简化了结构尺寸及复杂程度，通过正交蝶形线圈的设计，提高了信噪比，实现了对裂纹的检测。
