- 专利标题: 基于第一性原理预测表面基团对MXene吸附性能影响的方法
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申请号: CN202411131629.X申请日: 2024-08-19
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公开(公告)号: CN118645192B公开(公告)日: 2024-10-29
- 发明人: 安博星 , 李玉善 , 刘旭 , 王雅洁
- 申请人: 大连理工大学盘锦产业技术研究院
- 申请人地址: 辽宁省盘锦市辽东湾新区大工路2号
- 专利权人: 大连理工大学盘锦产业技术研究院
- 当前专利权人: 大连理工大学盘锦产业技术研究院
- 当前专利权人地址: 辽宁省盘锦市辽东湾新区大工路2号
- 代理机构: 北京睿博行远知识产权代理有限公司
- 代理商 赵志勇
- 主分类号: G16C60/00
- IPC分类号: G16C60/00 ; G16C10/00 ; G16C20/30
摘要:
本发明涉及一种基于第一性原理预测表面基团对MXene吸附性能影响的方法,涉及新材料技术领域。所述方法包括:基于第一性原理弛豫计算,获取不同吸附剂稳定构型对应的第一系统能量和目标污染物稳定构型的第二系统能量;基于第一性原理弛豫计算,获取吸附产物稳定构型的第三系统能量;基于所述第一系统能量、所述第二系统能量、所述第三系统能量和所述吸附剂与所述目标污染物之间的吸附模型,计算不同吸附剂与所述目标污染物之间吸附能;基于所述吸附能,预测不同表面基团对MXene吸附目标污染物时的吸附性能的影响。上述方法操作便捷、不需要逐一进行实验即可准确预测不同表面基团对MXene吸附目标污染物时的吸附性能影响。
公开/授权文献
- CN118645192A 基于第一性原理预测表面基团对MXene吸附性能影响的方法 公开/授权日:2024-09-13