Invention Publication
- Patent Title: 采样方法、采样装置、电子设备及存储介质
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Application No.: CN202410619515.3Application Date: 2024-05-17
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Publication No.: CN118645954APublication Date: 2024-09-13
- Inventor: 俞伟国 , 刘宏君 , 林撒迦 , 高小全 , 凌昊 , 李炜霞 , 周海波 , 马文斌
- Applicant: 长园深瑞继保自动化有限公司
- Applicant Address: 广东省深圳市南山区高新技术产业园北区科技北一路13号
- Assignee: 长园深瑞继保自动化有限公司
- Current Assignee: 长园深瑞继保自动化有限公司
- Current Assignee Address: 广东省深圳市南山区高新技术产业园北区科技北一路13号
- Agency: 深圳中一联合知识产权代理有限公司
- Agent 袁子龙
- Main IPC: H02H1/00
- IPC: H02H1/00 ; H02H7/26 ; G01R19/00 ; G06F17/16

Abstract:
本申请公开了一种采样方法、采样装置、电子设备及存储介质,采样方法,包括:控制继电保护装置以N倍的需求采样率采集N个初始采样数据;根据N个初始采样数据,确定继电保护装置的降噪系数;根据降噪系数及N个初始采样数据,确定继电保护装置在需求采样率下采集的降噪采样数据。本方法实现了基于继电保护装置在高采样率下采集的采样数据确定继电保护装置的降噪系数,并基于降噪系数对采样数据进行降噪处理,得到继电保护装置在低采样率下采集的采样数据,提高了继电保护装置进行数据采集的采集准确性。
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