采样方法、采样装置、电子设备及存储介质
Abstract:
本申请公开了一种采样方法、采样装置、电子设备及存储介质,采样方法,包括:控制继电保护装置以N倍的需求采样率采集N个初始采样数据;根据N个初始采样数据,确定继电保护装置的降噪系数;根据降噪系数及N个初始采样数据,确定继电保护装置在需求采样率下采集的降噪采样数据。本方法实现了基于继电保护装置在高采样率下采集的采样数据确定继电保护装置的降噪系数,并基于降噪系数对采样数据进行降噪处理,得到继电保护装置在低采样率下采集的采样数据,提高了继电保护装置进行数据采集的采集准确性。
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