发明公开
- 专利标题: 一种用于微毫米级颗粒粒度的原位检测方法及装置
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申请号: CN202410562199.0申请日: 2024-05-08
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公开(公告)号: CN118670940A公开(公告)日: 2024-09-20
- 发明人: 杨志韬 , 刘刚
- 申请人: 哈尔滨理工大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号
- 专利权人: 哈尔滨理工大学
- 当前专利权人: 哈尔滨理工大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号
- 代理机构: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所
- 代理商 陈润明
- 主分类号: G01N15/0227
- IPC分类号: G01N15/0227
摘要:
本申请属于测试技术领域,公开了一种用于微毫级颗粒粒度的检测方法及装置,检测方法包含以下步骤:待测样品粉末置于样品盘中,滴加去离子水或乙醇;显微检测装置连接上位机;打开上位机中的检测分析软件;显微镜在软件控制下对样品进行拍照,经过检测分析软件读取图像,进行灰度、二值化、边缘检测、圆半径测量、统计计算处理;样品盘在软件控制下自动平移,显微镜对样品进行拍照;重复步骤三、四若干次,绘制粒径分布曲线,完成检测。检测装置包括显微检测装置、上位机,所述显微检测装置包括显微镜、载物台、样品盘、步进电机、二维平移滑轨、支撑柱、底座、支臂。本申请解决了现有技术中检测微粒粒度分布设备昂贵,操作复杂,非原位等问题。