发明公开
- 专利标题: 一种显示面板缺陷检测设备及缺陷检测方法
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申请号: CN202411208924.0申请日: 2024-08-30
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公开(公告)号: CN118736993A公开(公告)日: 2024-10-01
- 发明人: 陈建泉 , 刘良远 , 龚胜
- 申请人: 武汉精立电子技术有限公司 , 深圳精测光电有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号; ;
- 专利权人: 武汉精立电子技术有限公司,深圳精测光电有限公司,武汉精测电子集团股份有限公司
- 当前专利权人: 武汉精立电子技术有限公司,深圳精测光电有限公司,武汉精测电子集团股份有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号; ;
- 代理机构: 武汉华之喻知识产权代理有限公司
- 代理商 廖盈春
- 主分类号: G09G3/00
- IPC分类号: G09G3/00 ; G01R31/00 ; G01N21/95
摘要:
本申请属于缺陷检测技术领域,具体公开了一种显示面板缺陷检测设备及缺陷检测方法,该显示面板缺陷检测设备,包括:信号发生器、电源模块和透明导电膜,透明导电膜覆盖在显示面板的屏幕上,电源模块与透明导电膜电连接;电源模块用于向透明导电膜供电;信号发生器用于生成图像信号并输出图像信号至显示面板,以点亮显示面板的屏幕。本申请,通过信号发生器点亮显示面板,电源模块提供高电压至透明导电膜,进而透明导电膜带有静电荷,在显示面板的屏幕周围形成静电场,静电场作为静电干扰施加在显示面板上,进而通过观测显示面板的屏幕的亮度变化,能够判断显示面板是否存在Mura缺陷,实现检测显示面板在静电场中Mura缺陷。