- 专利标题: 基于XRD光谱分析的煤系石墨评价指标确定方法
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申请号: CN202410980251.4申请日: 2024-07-22
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公开(公告)号: CN118914256A公开(公告)日: 2024-11-08
- 发明人: 胡广青 , 韩锋 , 刘伟 , 徐瑞瑞 , 高宇航 , 罗卉卉 , 彭磊 , 赵锐 , 魏超
- 申请人: 安徽省煤田地质局勘查研究院
- 申请人地址: 安徽省合肥市高新区科学大道6号
- 专利权人: 安徽省煤田地质局勘查研究院
- 当前专利权人: 安徽省煤田地质局勘查研究院
- 当前专利权人地址: 安徽省合肥市高新区科学大道6号
- 代理机构: 上海恩凡知识产权代理有限公司 31459专利代理师李强
- 主分类号: G01N23/2055
- IPC分类号: G01N23/2055 ; G01N23/2005
摘要:
本发明公开了基于XRD光谱分析的煤系石墨评价指标确定方法,包括以下步骤:脱矿物试样制备、内标试样制备、通过X射线衍射仪对不同石墨化程度的原煤样品和脱矿物样品分别进行XRD测试分析,获取相应的XRD光谱衍射曲线及参数信息,采用Origin软件,对XRD光谱衍射曲线不同分峰拟合方法进行对比分析,本发明借助煤质分析、煤镜质组反射率和XRD等实验手段,分析不同分峰拟合方法和不同样品前处理方法对XRD光谱参数的影响,探讨基于XRD光谱分析的煤系石墨评价指标的有效确定方法及响应规律,为进一步完善煤系石墨的评价指标体系,开展快速、高效的煤系石墨化等级划分体系构建提供了依据。