Invention Publication
- Patent Title: 一种实现FPGA程序定期自检和自修复的方法
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Application No.: CN202411116433.3Application Date: 2024-08-14
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Publication No.: CN118939463APublication Date: 2024-11-12
- Inventor: 吴飞 , 宋科 , 李校南 , 高连跃 , 张兴凯 , 吴志轩 , 任凯琦 , 贾俊峰 , 张明明 , 赵博文 , 王法秀
- Applicant: 北京计算机技术及应用研究所 , 中国人民解放军96901部队26分队
- Applicant Address: 北京市海淀区永定路51号;
- Assignee: 北京计算机技术及应用研究所,中国人民解放军96901部队26分队
- Current Assignee: 北京计算机技术及应用研究所,中国人民解放军96901部队26分队
- Current Assignee Address: 北京市海淀区永定路51号;
- Agency: 中国兵器工业集团公司专利中心
- Agent 辛海明
- Main IPC: G06F11/07
- IPC: G06F11/07 ; G06F11/10

Abstract:
本发明涉及一种实现FPGA程序定期自检和自修复的方法,属于航空、航天及核电领域中的FPGA高可靠性设计技术领域。本发明在FPGA、MCU和FPGA外部程序存储器之间增加半导体总线切换开关,默认由MCU控制半导体总线切换开关的切换选通使能;将FPGA外部程序存储器按地址分为上下两个区,分别存储同样的FPGA程序;每次设备加电启动时默认FPGA外部程序存储器与FPGA联通,用于加载FPGA程序;定期自检时,由MCU切换FPGA外部程序存储器控制权,通过MCU直接访问FPGA外部程序存储器进行自检。本发明能通过定期自检提前发现SEU问题,并及时进行自动修复,提高了FPGA外部存储器利用率和FPGA程序定期自检的效率和可靠性。
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