本发明提供了一种材料的纵波速度、横波速度、厚度的测量方法及装置，对应的方法包括：通过第一晶片发射第二无偏折纵波至未知材料，并通过第一晶片接收第二无偏折纵波，以计算第二无偏折纵波在未知材料的第二传播时间；通过第二晶片与第三晶片的任意一个晶片发射第一偏折纵波至未知材料，并通过另一个晶片接收第一偏折纵波，以计算第一偏折纵波在未知材料的第三传播时间；其中，第一偏折纵波对应的入射角小于第一临界角，第一临界角对应于标准均匀材料；第二晶片以及第三晶片分别位于第一晶片的两侧；本发明通过直接测量的方式即可获得材料的纵波声速、横波速度以及厚度信息，并可通过不同位置的声速信息评价材料的均匀性。