本发明涉及集成电路测试技术领域，公开了一种芯片安全检测方法及装置。首先，基于寄存器传输级代码得到获取控制流图和数据依赖图，其中，控制流图包括节点和节点之间的关系，节点表示寄存器传输级代码中的语句，数据依赖图表示寄存器传输级代码中数据之间的依赖关系。然后，基于控制流图进行特征提取，得到节点特征数据以及基于控制流图和数据依赖图进行特征提取，得到变量特征数据。最后，将节点特征数据和变量特征数据输入机器学习模型中进行检测，得到安全检测结果。通过基于寄存器传输级代码得到的获取控制流图和数据依赖图进行特征提取简化了语义特征的提取过程，提升芯片设计安全漏洞检测即芯片安全检测的效率。