Invention Publication
- Patent Title: 一种土壤剖面样品分析系统及方法
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Application No.: CN202411689516.1Application Date: 2024-11-25
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Publication No.: CN119178742APublication Date: 2024-12-24
- Inventor: 仲启铖 , 林昱辰 , 于全波 , 张桂莲 , 郑谐维 , 李镕汐 , 赵莺莺 , 张希金
- Applicant: 上海市园林科学规划研究院
- Applicant Address: 上海市徐汇区龙吴路899号
- Assignee: 上海市园林科学规划研究院
- Current Assignee: 上海市园林科学规划研究院
- Current Assignee Address: 上海市徐汇区龙吴路899号
- Agency: 上海邦德专利代理事务所
- Agent 孙绍武
- Main IPC: G01N21/27
- IPC: G01N21/27 ; G01N21/01

Abstract:
本发明公开了一种土壤剖面样品分析系统及方法,涉及土壤分析数据管理技术领域,通过对土壤的高光谱图像进行识别,将历史采样记录中某次采样记录记为目标采样,获取目标切片中所有种类的土壤成分对应的变化函数,计算所有变化函数中目标变化的数量,获取各个剖面采样切片的所有单位采样层中所有单位采样层土壤成分含量的对应数值,分别计算各种土壤成分含量的变化范围,获取土壤的当前采样记录,通过比较当前采样记录与历史采样记录间土壤成分含量的变化范围的差异计算权重系数,比较当前采样记录与历史采样记录间目标变化的差异,通过权重系数对差异进行衡量得到差异评估值。
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