发明公开
CN1192275A 低成本CMOS测试仪
失效 - 权利终止
- 专利标题： 低成本CMOS测试仪
- 专利标题（英）： Low cost CMOS tester
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申请号： CN96196023.X申请日： 1996-03-25
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公开(公告)号： CN1192275A公开(公告)日： 1998-09-02
- 发明人: 小格拉尔德·F·米廷 , 乔治·W·康纳
- 申请人： 泰拉丁公司
- 申请人地址： 美国马萨诸塞州
- 专利权人： 泰拉丁公司
- 当前专利权人： 泰拉丁公司
- 当前专利权人地址： 美国马萨诸塞州
- 代理机构： 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 余朦
- 优先权： 08/510,079 1995.08.01 US
- 国际申请： PCT/US1996/04015 1996.03.25
- 国际公布： WO1997/05498 EN 1997.02.13
- 进入国家日期： 1998-01-27
- 主分类号： G01R31/316
- IPC分类号： G01R31/316
摘要：
用低成本CMOS元件实现的自动测试设备,使用了一个延迟锁定环以补偿由过程变化和工作温度的慢变化所引起的定时差异。本设计还减少了在处理随被编程频率变化的信号的主要定时通路中的电路元件数量。
公开/授权文献
- CN1093939C 低成本CMOS测试仪 公开/授权日：2002-11-06
