Invention Publication
- Patent Title: 一种显示器件测试装置、系统、方法、设备及介质
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Application No.: CN202411609747.7Application Date: 2024-11-12
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Publication No.: CN119274452APublication Date: 2025-01-07
- Inventor: 高天予 , 熊素琴 , 邹和平 , 李求洋 , 李扬 , 成达 , 李甲祎 , 郑安刚 , 李龙涛 , 许佳佳 , 杨巍 , 陈思禹 , 王雅涛 , 赵越 , 秦程林 , 赵立涛 , 郭建宁 , 李禹凡 , 谢思博 , 谭琛
- Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区清河小营东路15号
- Assignee: 中国电力科学研究院有限公司
- Current Assignee: 中国电力科学研究院有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清河小营东路15号
- Agency: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- Agent 刘爱丽
- Main IPC: G09G3/00
- IPC: G09G3/00
Abstract:
本发明公开了一种显示器件测试装置、系统、方法、设备及介质，属于半导体技术领域。本发明装置，包括：电源电路板和器件插装电路板；所述器件插装电路板用于连接待测显示器件，所述电源电路板用于通过所述器件插装电路板连接所述待测显示器件；所述电源电路板，为所述待测显示器件提供显示控制信号，以显示控制信号对所述待测显示器件进行测试，所述器件插装电路板用于显示控制参数。本发明测试效率高，兼容率高。
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