本发明公开了一种用于微控制器MCU芯片测试的装置及方法，属于半导体技术领域。本发明装置，包括：主控电路板、MCU测试母电路板和MCU测试子电路板；所述MCU测试子电路板用于获取待测MCU芯片的多路输出参数，并将所述多路输出参数通过所述MCU测试母电路板发送至所述主控电路板，所述主控电路板用于选择所述多路输出参数中的一路输出参数进行输出，以所述一路输出参数进行待测MCU芯片的性能或功能测试，直至所述多路输出参数均完成测试；所述MCU测试子电路板与待测MCU芯片通信连接。本发明装置实施测试简单高效且兼容性高。