发明公开
CN1210584A 确定导电材料组成的涂层厚度的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题： 确定导电材料组成的涂层厚度的方法
- 专利标题（英）： Determination of thickness of layer of electroconductive material
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申请号： CN97192121.0申请日： 1997-11-08
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公开(公告)号： CN1210584A公开(公告)日： 1999-03-10
- 发明人: 克劳斯·多布勒 , 汉斯约里·哈赫特尔 , 赖因哈德·迪姆克 , 弗朗茨·奥夫德海德 , 理查德·布拉特尔特 , 约瑟夫·韦伯
- 申请人： 罗伯特·博施有限公司
- 申请人地址： 联邦德国斯图加特
- 专利权人： 罗伯特·博施有限公司
- 当前专利权人： 罗伯特·博施有限公司
- 当前专利权人地址： 联邦德国斯图加特
- 代理机构： 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 蹇炜
- 优先权： 19652750.3 1996.12.18 DE
- 国际申请： PCT/DE1997/02615 1997.11.08
- 国际公布： WO1998/27400 DE 1998.06.25
- 进入国家日期： 1998-08-07
- 主分类号： G01B7/06
- IPC分类号： G01B7/06 ; G01B121/02 ; G01B101/00
摘要：
在确定导电材料组成的涂层厚度的方法中,借助于标准化方法将测量误差转换成无量纲的标准值。在这一转换过程中,可以进一步消除例如由于温度偏移和基体材料不同的电特性和磁特性引起的测量误差。借助于标准曲线将这一标准值转换成涂层厚度值。
公开/授权文献
- CN1133865C 确定导电材料组成的涂层厚度的方法 公开/授权日：2004-01-07