Invention Publication
CN1242105A 模制塑料型半导体器件及其制造工艺
失效 - 权利终止
- Patent Title: 模制塑料型半导体器件及其制造工艺
- Patent Title (English): Resin-encapsulated semiconductor device and method for manufacturing the same
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Application No.: CN96180555.2Application Date: 1996-12-26
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Publication No.: CN1242105APublication Date: 2000-01-19
- Inventor: 宫木美典 , 铃木博通 , 铃木一成 , 西田隆文 , 伊藤富士夫 , 坪崎邦宏 , 龟冈昭彦 , 西邦彦
- Applicant: 株式会社日立制作所 , 日立超大规模集成电路系统株式会社
- Applicant Address: 日本东京
- Assignee: 株式会社日立制作所,日立超大规模集成电路系统株式会社
- Current Assignee: 株式会社日立制作所,日立超大规模集成电路系统株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京
- Agency: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- Agent 王永刚
- International Application: PCT/JP1996/03808 1996.12.26
- International Announcement: WO1998/29903 JA 1998.07.09
- Date entered country: 1999-06-23
- Main IPC: H01L21/56
- IPC: H01L21/56 ; H01L23/28 ; H01L23/50 ; H01L21/60

Abstract:
一种制造树脂密封半导体器件的方法,所说半导体器件中管芯垫具有小于安装于管芯垫主表面上的半导体芯片的面积,半导体芯片和管芯垫密封在模制树脂体中。半导体芯片和管芯垫设置于模具的凹腔中,使管芯垫背面和凹腔的相对内表面间的间距比半导体芯片主表面和凹腔的相对内表面间的间距窄相当于管芯垫厚度的距离。通过中部浇口同时向凹腔内注入树脂,从而模制树脂体。于是半导体芯片不会因注入到芯片背侧空间的树脂而向上移动。因此,由于防止了半导体芯片、键合线等暴露于模制树脂体外的缺陷,所以可以提高树脂密封半导体器件的成品率。
Public/Granted literature
- CN1143371C 模制塑料型半导体器件及其制造工艺 Public/Granted day:2004-03-24
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