发明公开
CN1431477A 检测表面形状的点衍射干涉仪
无效 - 撤回
- 专利标题: 检测表面形状的点衍射干涉仪
- 专利标题(英): Spot diffraction interferometer for measuring surface shape
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申请号: CN03115412.3申请日: 2003-02-14
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公开(公告)号: CN1431477A公开(公告)日: 2003-07-23
- 发明人: 徐文东 , 周飞 , 王阳 , 张锋 , 魏劲松
- 申请人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 申请人地址: 上海市800-211邮政信箱
- 专利权人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 上海市800-211邮政信箱
- 代理机构: 上海新天专利代理有限公司
- 代理商 张泽纯
- 主分类号: G01J3/45
- IPC分类号: G01J3/45 ; G01N21/45
摘要:
一种检测表面形状的点衍射干涉仪,包括光学部分和数据采集、处理和控制部分。光学部分包含激光器,沿激光束前进方向的光轴上,依次设有会聚透镜,镀有超分辨掩膜的固体浸润透镜,在光轴的上方放置待测器件,下方设有成像透镜;数据采集、处理和控制部分包含CCD摄像机,计算机和位移控制器。本发明的关键是通过采用固体浸润透镜和超分辨掩膜的技术,获得了一个更小的小孔作为点衍射干涉仪的理想球面波的光源,该小孔不仅位置和大小均可调,而且光透过率高,对入射光束的质量要求较低,因而本发明是一种测量精度高、易于装配和调整的检测器件表面形状的装置。