发明公开
CN1482579A 图像缺陷检查装置和图像缺陷检查方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 图像缺陷检查装置和图像缺陷检查方法
- 专利标题(英): Image defect inspecting apparatus and image defect inspecting method
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申请号: CN03105144.8申请日: 2003-03-04
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公开(公告)号: CN1482579A公开(公告)日: 2004-03-17
- 发明人: 安川薰 , 足立康二 , 山田纪一 , 中川英悟 , 上床弘毅 , 里永哲一
- 申请人: 富士施乐株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 富士施乐株式会社
- 当前专利权人: 富士施乐株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 北京三友知识产权代理有限公司
- 代理商 李辉
- 优先权: 267919/2002 2002.09.13 JP
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06F17/10
摘要:
本发明的图像缺陷检查装置包括:模板图像产生部,用于根据参考图像数据产生模板图像;对应图像提取部,用于从用于检查的扫描图像的数字数据中提取位于与模板图像对应的位置处的预定图像;数据嵌入部,用于把希望的相同图形数据嵌入模板图像和由对应图像提取部提取的图像;正规化相关值计算处理单元,用于根据被嵌入了图形数据的模板图像和所提取图像来获得一个正规化相关系数;和缺陷判断部,用于通过把由正规化相关值计算处理单元获得的正规化相关系数与预定阈值进行比较以获得二者之间的大小关系,来判断是否存在缺陷。
公开/授权文献
- CN1297943C 图像缺陷检查装置和图像缺陷检查方法 公开/授权日:2007-01-31