发明公开
- 专利标题: 用于增强对痕量物质进行光谱测量的光纤谐振器中的瞬逝场暴露的方法和装置
- 专利标题(英): Method and apparatus for enhanced evanescent field exposure in an optical fiber resonator for spectroscopic measurement of trace species
-
申请号: CN02829036.4申请日: 2002-12-30
-
公开(公告)号: CN1628241A公开(公告)日: 2005-06-15
- 发明人: 凯文·K·莱曼 , 彼得·B·塔尔萨 , 保罗·拉比诺维茨
- 申请人: 普林斯顿大学理事会
- 申请人地址: 美国新泽西
- 专利权人: 普林斯顿大学理事会
- 当前专利权人: 普林斯顿大学理事会
- 当前专利权人地址: 美国新泽西
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 韩宏
- 优先权: 10/157,400 2002.05.29 US
- 国际申请: PCT/US2002/041689 2002.12.30
- 国际公布: WO2003/106942 EN 2003.12.24
- 进入国家日期: 2004-11-26
- 主分类号: G01J3/42
- IPC分类号: G01J3/42 ; G01N21/55
摘要:
本发明提出了一种用于检测和测量气体或液体样品中的痕量物质的装置。由光纤形成的环降单元的传感器被暴露于该样品气体或液体。相干源发射辐射到光纤环中,该辐射又在输出耦合器处被接收。光纤环被耦合到传感器,该传感器使其一部分在输入端和输出端之间暴露于样品气体或样品液体。该传感器具有增强的瞬逝区域。处理器被耦合到接收器,并基于光纤环内的辐射的衰减速率确定气体或液体样品中的痕量物质的水平。
公开/授权文献
- CN1628241B 用于增强对痕量物质进行光谱测量的光纤谐振器中的瞬逝场暴露的方法和装置 公开/授权日:2010-12-08