发明公开
CN1688716A 评估微阵列质量的方法
失效 - 放弃专利权
- 专利标题： 评估微阵列质量的方法
- 专利标题（英）： Methods to assess quality of microarrays
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申请号： CN03820373.1申请日： 2003-06-27
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公开(公告)号： CN1688716A公开(公告)日： 2005-10-26
- 发明人: M·马顿 , M·迈尔 , A·琼斯
- 申请人： 罗斯塔英法美蒂克斯有限责任公司
- 申请人地址： 美国华盛顿州
- 专利权人： 罗斯塔英法美蒂克斯有限责任公司
- 当前专利权人： 罗斯塔英法美蒂克斯有限责任公司
- 当前专利权人地址： 美国华盛顿州
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 郭广迅; 刘玥
- 优先权： 60/392,629 2002.06.28 US
- 国际申请： PCT/US2003/020504 2003.06.27
- 国际公布： WO2004/003233 EN 2004.01.08
- 进入国家日期： 2005-02-28
- 主分类号： C12Q1/68
- IPC分类号： C12Q1/68 ; C07H21/04
摘要：
本发明涉及评估微阵列质量的方法和组合物。具体地，本发明涉及在逐步合成中通过单体在微阵列上合成的质量控制探针的用途。通过评估来自质量控制探针的信号程度和确定它们与预期的信号强度的偏离，可以确定微阵列合成的质量。本发明还涉及检测微阵列的保存和处理过程中发生的缺陷的方法。本发明还涉及使用计算机鉴定具有合成、保存或处理过程中的一个或多个缺陷的微阵列。
