Invention Publication
CN1697969A 细胞外电位测定装置及其制造方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 细胞外电位测定装置及其制造方法
- Patent Title (English): Extracellular potential measuring device and its manufacturing method
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Application No.: CN200480000451.XApplication Date: 2004-03-08
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Publication No.: CN1697969APublication Date: 2005-11-16
- Inventor: 中谷将也 , 冈弘章 , 江本文昭
- Applicant: 松下电器产业株式会社
- Applicant Address: 日本大阪
- Assignee: 松下电器产业株式会社
- Current Assignee: 松下电器产业株式会社
- Current Assignee Address: 日本大阪
- Agency: 北京纪凯知识产权代理有限公司
- Agent 龙淳
- Priority: 062228/2003 2003.03.07 JP; 062229/2003 2003.03.07 JP
- International Application: PCT/JP2004/002951 2004.03.08
- International Announcement: WO2004/079354 JA 2004.09.16
- Date entered country: 2005-01-05
- Main IPC: G01N27/30
- IPC: G01N27/30 ; G01N27/416 ; C12Q1/02 ; C12M1/34 ; G01N33/483

Abstract:
细胞外电位测定装置具有拥有第一表面和第一表面相反一侧的第二表面的膜片,和在膜片的第二表面上设置的电极。在膜片上形成具有在第一表面上开口的开口部的凹部,和从凹部贯通至膜片的第二表面的通孔。通孔从比凹部的最深处更靠近凹部的开口部的位置贯通至膜片的第二表面。膜片的第二表面上,电极被设置在通孔的开口部周围。在该装置中,由于即使被验体细胞没有到达凹部内最深处,被验体细胞的细胞膜也可以与通孔确实地无间隙贴紧,所以,可遮断通孔内的培养液和膜片上面一侧的培养液,并且可以通过检测电极,有效地检测细胞活动时产生的电气化学变化。
Public/Granted literature
- CN100462717C 细胞外电位测定装置及其制造方法 Public/Granted day:2009-02-18
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