发明授权
CN1776412B 确定用于表面检测的照射参数
失效 - 权利终止
- 专利标题: 确定用于表面检测的照射参数
- 专利标题(英): Determination of radiation parameters for inspecting surface
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申请号: CN200510109859.7申请日: 2005-07-29
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公开(公告)号: CN1776412B公开(公告)日: 2011-04-27
- 发明人: A·贝尔 , D·奥尔巴齐
- 申请人: 应用材料以色列公司
- 申请人地址: 以色列瑞哈佛特市
- 专利权人: 应用材料以色列公司
- 当前专利权人: 应用材料以色列公司
- 当前专利权人地址: 以色列瑞哈佛特市
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 钱慰民
- 优先权: 10/903,125 2004.07.29 US
- 主分类号: G01N21/956
- IPC分类号: G01N21/956 ; H01L21/66
摘要:
用于表面检测的装置,包括适于用照射光束照射所述表面的照射光学器件,所述照射光束具有可调偏振。该装置还包括至少一个检测器,每个检测器和各个分析器相连,所述分析器具有方向性,并且适于产生响应于通过分析器接收的表面上的被照射区的光的信号,至少一个检测器之一适于接收来自被照射区的散射光。该装置还包括一个控制器,其适于指导照射光学器件去照射被照射区,以及响应于由此在至少一个检测器中产生的校准信号,所述控制器适于设置可调偏振和每个检测器各个分析器的方向。
公开/授权文献
- CN1776412A 确定用于表面检测的照射参数 公开/授权日:2006-05-24