发明公开
- 专利标题: 一种用于辐射成像设备的指标检测装置
- 专利标题(英): Index inspector for radioactive image
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申请号: CN200410009893.2申请日: 2004-11-26
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公开(公告)号: CN1779449A公开(公告)日: 2006-05-31
- 发明人: 胡斌 , 杨光 , 孙尚民
- 申请人: 清华同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市清华同方科技广场A座2907
- 专利权人: 清华同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 清华同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市清华同方科技广场A座2907
- 主分类号: G01N23/04
- IPC分类号: G01N23/04 ; G01N23/00
摘要:
一种用于辐射成像设备的指标检测装置,涉及辐射成像检测技术领域。本发明包括机架及被测基板。其结构特点是,所述被测基板的两侧边中部置有在一同心的加长轴。各加长轴的顶端置有法兰盘,各法兰盘由与机架固定的支架上所设支座支撑的转轴连接。其中一转轴的顶端延伸出支座与所设减速器的输出端连接,减速器的输入端连接动力源。使用本发明装置可以使被测基板在360度范围内任意旋转,适应于不同位置加速器的入射角度,并且还能有效地减少散射的发生。
公开/授权文献
- CN100573115C 一种用于辐射成像设备的指标检测装置 公开/授权日:2009-12-23