Invention Publication
CN1819197A 使用最少引脚而被测试的半导体器件、以及测试其的方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 使用最少引脚而被测试的半导体器件、以及测试其的方法
- Patent Title (English): Semiconductor device tested using minimum pins and methods of testing the same
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Application No.: CN200610007145.XApplication Date: 2006-02-05
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Publication No.: CN1819197APublication Date: 2006-08-16
- Inventor: 宋海镇 , 朱镇太
- Applicant: 三星电子株式会社
- Applicant Address: 韩国京畿道
- Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee Address: 韩国京畿道
- Agency: 北京市柳沈律师事务所
- Agent 黄小临; 王志森
- Priority: 10048/05 2005.02.03 KR; 10748/05 2005.02.04 KR
- Main IPC: H01L27/02
- IPC: H01L27/02 ; H01L21/66 ; G01R31/00
Abstract:
本发明提供了能够使用一个测试引脚、以及使用输入/输出引脚而不需要任何测试引脚而被测试的半导体器件、以及测试其的方法。一种半导体器件包括：测试引脚，用于输入/输出测试数据；操作模式控制器，用于响应于外部复位信号和时钟信号而激活使能信号；操作模式存储装置，用于响应于使能信号，通过测试引脚而与时钟信号相同步地接收串行数据；以及操作模式解码器，用于响应于存储在操作模式存储装置中的串行数据而生成操作模式选择信号。
Public/Granted literature
- CN100585852C 使用最少引脚而被测试的半导体器件、以及测试其的方法 Public/Granted day:2010-01-27
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IPC分类:
