发明授权
CN1874647B 印刷布线基板及半导体试验装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 印刷布线基板及半导体试验装置
- 专利标题(英): Printing routing basal lamina and semiconductor testing device
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申请号: CN200610084503.7申请日: 2006-05-25
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公开(公告)号: CN1874647B公开(公告)日: 2010-12-08
- 发明人: 内山秀二 , 佐藤聪郁
- 申请人: 日商日本工程技术股份有限公司
- 申请人地址: 日本国神奈川县
- 专利权人: 日商日本工程技术股份有限公司
- 当前专利权人: 日商日本工程技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 日本国神奈川县
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 李香兰
- 优先权: 2005-161783 2005.06.01 JP
- 主分类号: H05K1/00
- IPC分类号: H05K1/00 ; H01L21/66 ; G01R31/26
摘要:
一种印刷布线基板,其构成为包括:第1布线层,其由通孔只分离第1距离而形成;第2布线层,其由所述通孔只分离比所述第1距离更小的第2距离而形成;接触层,其与插入到所述通孔中的连接管脚电连接;与所述接触层电连接的第3布线层;第4布线层,其由所述通孔只分离第3距离而形成;和第5布线层,其由所述通孔只分离比所述第3距离更大的第4距离而形成。由此,本发明可提供经由通孔而能够与被试验器件收发理想的波形的信号的印刷布线基板。
公开/授权文献
- CN1874647A 印刷布线基板及半导体试验装置 公开/授权日:2006-12-06