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发明授权
CN1877260B 用低精度测量系统进行高精度测量的方法 失效 - 权利终止 许可

  • 专利标题： 用低精度测量系统进行高精度测量的方法
  • 专利标题（英）： Method for implementing high precision measurement by low precision measurement system
  • 申请号： CN200610019114.6
    申请日： 2006-08-07
  • 公开(公告)号： CN1877260B
    公开(公告)日： 2010-10-13
  • 发明人: 张德煌 , 覃颖 , 江修
  • 申请人： 三峡大学
  • 申请人地址： 湖北省宜昌市大学路8号
  • 专利权人： 三峡大学
  • 当前专利权人： 三峡大学
  • 当前专利权人地址： 湖北省宜昌市大学路8号
  • 代理机构： 宜昌市三峡专利事务所
  • 代理商 成钢
  • 主分类号： G01D3/00
  • IPC分类号： G01D3/00
用低精度测量系统进行高精度测量的方法
摘要：
一种用低精度测量系统进行高精度测量的方法，属于测量技术领域。本发明通过被测量或控制系统中的物理量，用精度为测量系统，连续或者断续的进行等精度测量N次，采集到一组等精度测量数据序列Xi(i＝1，2，…N)，所用的时间为ΔT；将得到的数据送入计算机进行处理后得到测量结果。对实时要求不高或无实时要求的测量或控制环境，利用低精度的测量系统，通过误差理论，对被测信号数据进行数据处理，在提高测量精度，达到系统的精度要求的同时，大幅度地降低测量系统的成本。
摘要（英）：

Disclosed is a method for employing low accuracy measurement system to perform high accuracy measurement. The invention comprises employing physical value in measured control system, performing N times continue equal accuracy measurement to collect a group of equal accuracy measurement data queue Xi (i=1, 2,... N), utilizing time deltaT; sending obtained data to computer for processing and getting measurement results. The invention is characterized in that utilizing low accuracy measurement system in measure or control environment of low real-time requirement, via processing on measured signal, can improve measure accuracy and meet system accuracy requirement.

公开/授权文献
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