发明公开
CN1922488A 试验条的光学分析设备和方法
无效 - 撤回
- 专利标题： 试验条的光学分析设备和方法
- 专利标题（英）： Device and method for the optical evaluation of test strips
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申请号： CN200580005440.5申请日： 2005-02-18
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公开(公告)号： CN1922488A公开(公告)日： 2007-02-28
- 发明人: 安德莱斯·布彻曼 , 斯蒂芬·詹尼 , 亚历山大·里兹克 , 迈克尔·斯德勒 , 布鲁诺·奥斯科
- 申请人： 普利奥尼克斯股份公司
- 申请人地址： 瑞士施利伦
- 专利权人： 普利奥尼克斯股份公司
- 当前专利权人： 普利奥尼克斯股份公司
- 当前专利权人地址： 瑞士施利伦
- 代理机构： 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 董莘
- 优先权： 102004008539.0 2004.02.19 DE
- 国际申请： PCT/EP2005/001691 2005.02.18
- 国际公布： WO2005/083434 DE 2005.09.09
- 进入国家日期： 2006-08-18
- 主分类号： G01N33/543
- IPC分类号： G01N33/543 ; G01N33/52 ; G01N21/76 ; G01N21/01 ; B01L9/00 ; B26F1/38
摘要：
本发明涉及试验条的光学分析设备，其中试验条分别具有至少一个受限区域，在受限区域中在与待检验样品接触以后可以生成可光学检测的信号，这种光学分析设备具有定位装置和图像生成装置，其中定位装置对于至少一个试验条或至少一个包括多个以特定平面结构连接的试验条的试验条单元具有容纳处，图像生成装置以图像方式记录至少一个受限区域，并且将记录结果传送到图像分析装置，其中图像分析装置定量地和/或定性地分析每个试验条的可光学检测信息。
IPC分类:
