估计扰动的位置
Abstract:
本发明估计扰动的位置。本发明涉及用于估计光学链路上的扰动(尤其在扰动是时变扰动的情况下)的位置的方法和设备。使用了光时域反射法技术,在该技术中,通过光脉冲源(18)将一系列低相干测试脉冲发射到光学链路(16)中,并且监测后向散射的返回信号。所述测试脉冲通过非平衡的Mach Zehnder干涉计(20),其结果是:对于每个测试脉冲,一对时间位移的脉冲副本被发射到链路(16)上。反向散射的返回信号通过同一干涉计(20),这使每一对脉冲副本被重新配向并且相互干涉。时变扰动(x)可能不同地影响了一对脉冲副本中的各脉冲副本。结果,在后向散射的信号中可能出现诸如阶跃的异常。根据异常的时间位置,来估计与引起该异常的扰动相关的距离。
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