实用新型
CN202330603U 石英晶体器件工艺优化测试平台
失效 - 权利终止
- 专利标题: 石英晶体器件工艺优化测试平台
- 专利标题(英): Process optimization test platform for quartz crystal device
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申请号: CN201120515804.7申请日: 2011-12-12
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公开(公告)号: CN202330603U公开(公告)日: 2012-07-11
- 发明人: 王慧斌 , 吴学文 , 李昌利 , 顾燕 , 徐立中
- 申请人: 王慧斌 , 吴学文 , 李昌利 , 顾燕 , 徐立中
- 申请人地址: 江苏省南京市西康路1号河海大学计算机与信息学院
- 专利权人: 王慧斌,吴学文,李昌利,顾燕,徐立中
- 当前专利权人: 王慧斌,吴学文,李昌利,顾燕,徐立中
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市西康路1号河海大学计算机与信息学院
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00 ; G01R23/04
摘要:
本实用新型涉及一种石英晶体器件工艺优化测试平台,其包括:计算机,与该计算机相连的信号发生器,与该信号发生器的频率信号输出端相连的π网络和第一峰值检波器,与π网络的频率信号输出端相连的第二峰值检波器,与第一、第二峰值检波器的输出端相连的A/D转换器。计算机通过接口电路控制信号发生器输出信号的频率和幅值,信号发生器的输出信号激励π网络,峰值检波电路用于将π网络两端的交流电压信号的峰值转换成与之成一定比例关系的直流信号,A/D转换器将这个直流信号转换成数字信号后,通过接口电路送入计算机。