实用新型
- 专利标题： 一种光学传感器可靠性试验系统
- 专利标题（英）： Optical sensor reliability test system
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申请号： CN201621264156.1申请日： 2016-11-21
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公开(公告)号： CN206193223U公开(公告)日： 2017-05-24
- 发明人: 肖智宏 , 闫培丽 , 于文斌 , 谷松林 , 韩凝晖 , 张锐 , 张国庆 , 郭志忠 , 王贵忠 , 吴刚
- 申请人： 国家电网公司 , 国网北京经济技术研究院 , 哈工大(张家口)电力科学技术研究所 , 哈尔滨工业大学
- 申请人地址： 北京市西城区西长安街86号; ; ;
- 专利权人： 国家电网公司,国网北京经济技术研究院,哈工大(张家口)电力科学技术研究所,哈尔滨工业大学
- 当前专利权人： 国家电网公司,国网北京经济技术研究院,哈工大(张家口)电力科学技术研究所,哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址： 北京市西城区西长安街86号; ; ;
- 代理机构： 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理商 关畅; 刘美丽
- 主分类号： G01R35/00
- IPC分类号： G01R35/00
摘要：
本实用新型涉及一种光学传感器可靠性试验系统，其特征在于，该试验系统包括光信号发射及检测单元、环境试验箱、合并单元和监测装置；所述环境试验箱用于盛放待检测的光学传感器样本，并根据可靠性试验类型调节相应环境条件；所述光信号发射及检测单元向所述光学传感器样本发送检测光信号，接收所述光学传感器样本发回的反馈光信号，并将所述检测光信号和反馈光信号分别转换为对应的数字量信号发送到所述合并单元；所述合并单元将数字量信号进行合并后发送到所述监测装置。本实用新型可以广泛应用于光学传感器的可靠性测试中。
