• 专利标题: 薄膜生产线缺陷测量检测装置
  • 专利标题(英): Detection device is measured to film production lines defect
  • 申请号: CN201721483957.1
    申请日: 2017-11-09
  • 公开(公告)号: CN207336395U
    公开(公告)日: 2018-05-08
  • 发明人: 张洁明刘仁明雷枫边心田
  • 申请人: 淮阴师范学院
  • 申请人地址: 江苏省淮安市淮阴区长江西路111号淮阴师范学院
  • 专利权人: 淮阴师范学院
  • 当前专利权人: 淮阴师范学院
  • 当前专利权人地址: 江苏省淮安市淮阴区长江西路111号淮阴师范学院
  • 主分类号: G01N21/95
  • IPC分类号: G01N21/95
薄膜生产线缺陷测量检测装置
摘要:
本实用新型公开了一种薄膜生产线缺陷测量检测装置,包括灯罩,所述灯罩焊接在支架上端,所述支架远离灯罩一端焊接有中央处理器,所述灯罩内部顶端安装有散热板,所述散热板内部固定连接有LED灯,所述灯罩内部底端固定连接有聚光棒,所述灯罩下方安装有传送带,所述传送带上与灯罩对应位置焊接有薄膜置放底座,所述传送带两端固定连接在传送带底座上,所述传送带正下方与薄膜置放底座对应位置安装有回收箱,所述传送带底座远离回收箱一端固定连接有步进电机,所述支架位于中央处理器的正下方焊接有警报器。该薄膜生产线缺陷测量检测装置,能够检测到薄膜的透明缺陷,并能及时警报,对次品进行回收利用。
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