实用新型
CN207336395U 薄膜生产线缺陷测量检测装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 薄膜生产线缺陷测量检测装置
- 专利标题(英): Detection device is measured to film production lines defect
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申请号: CN201721483957.1申请日: 2017-11-09
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公开(公告)号: CN207336395U公开(公告)日: 2018-05-08
- 发明人: 张洁明 , 刘仁明 , 雷枫 , 边心田
- 申请人: 淮阴师范学院
- 申请人地址: 江苏省淮安市淮阴区长江西路111号淮阴师范学院
- 专利权人: 淮阴师范学院
- 当前专利权人: 淮阴师范学院
- 当前专利权人地址: 江苏省淮安市淮阴区长江西路111号淮阴师范学院
- 主分类号: G01N21/95
- IPC分类号: G01N21/95
摘要:
本实用新型公开了一种薄膜生产线缺陷测量检测装置,包括灯罩,所述灯罩焊接在支架上端,所述支架远离灯罩一端焊接有中央处理器,所述灯罩内部顶端安装有散热板,所述散热板内部固定连接有LED灯,所述灯罩内部底端固定连接有聚光棒,所述灯罩下方安装有传送带,所述传送带上与灯罩对应位置焊接有薄膜置放底座,所述传送带两端固定连接在传送带底座上,所述传送带正下方与薄膜置放底座对应位置安装有回收箱,所述传送带底座远离回收箱一端固定连接有步进电机,所述支架位于中央处理器的正下方焊接有警报器。该薄膜生产线缺陷测量检测装置,能够检测到薄膜的透明缺陷,并能及时警报,对次品进行回收利用。