实用新型
CN207570763U 一种可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置
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申请号: CN201721847422.8申请日: 2017-12-26
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公开(公告)号: CN207570763U公开(公告)日: 2018-07-03
- 发明人: 刘桂雄 , 吴嘉健 , 张沛强 , 郭雪梅 , 曾昕 , 龙阳 , 陈长缨 , 王佳胜
- 申请人: 华南理工大学 , 广州市光机电技术研究院 , 广州市仪器仪表学会 , 广州广电计量检测股份有限公司 , 暨南大学 , 广东省标准化研究院
- 申请人地址: 广东省广州市天河区五山路华南理工大学
- 专利权人: 华南理工大学,广州市光机电技术研究院,广州市仪器仪表学会,广州广电计量检测股份有限公司,暨南大学,广东省标准化研究院
- 当前专利权人: 华南理工大学,广州市光机电技术研究院,广州市仪器仪表学会,广州广电计量检测股份有限公司,暨南大学,广东省标准化研究院
- 当前专利权人地址: 广东省广州市天河区五山路华南理工大学
- 代理机构: 北京天奇智新知识产权代理有限公司
- 代理商 王泽云
- 主分类号: G01M11/02
- IPC分类号: G01M11/02
摘要:
本实用新型公开了一种可测量VLC装备抗杂光性能的检测装置,该装置包括:杂光光源模块、抗杂光性能分析模块、双轴联动运动控制模块、主半透半反镜、副半透半反镜、待测VLC装置夹具、衰减器及箱体;所述杂光光源模块包括杂光光源与杂光光源底座;所述杂光光源底座安装在箱体底部,用于放置杂光光源;所述双轴联动运动控制模块包括X轴步进电机、X轴丝杆导轨、X轴滑动平台、Y轴步进电机、Y轴丝杆导轨与Y轴滑动平台;所述主半透半反镜通过固定件固定在箱体的底部;所述副半透半反镜安装在X轴滑动平台上。本实用新型提供的装置结构合理、实用性强、灵活性好,节省工时,提高机械移动精度,提高检测精度,替代人力,大大降低了成本。