实用新型
CN207851314U 闪烁体的余辉测试装置
失效 - 放弃
- 专利标题： 闪烁体的余辉测试装置
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申请号： CN201721842602.7申请日： 2017-12-26
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公开(公告)号： CN207851314U公开(公告)日： 2018-09-11
- 发明人: 张清军 , 张文剑 , 邹湘 , 孙立风 , 张战强
- 申请人： 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人： 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人： 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构： 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 艾春慧
- 主分类号： G01T7/00
- IPC分类号： G01T7/00 ; G01N23/04
摘要：
本实用新型公开了一种闪烁体的余辉测试装置。余辉测试装置包括射线发生器、转动体和余辉探测器，转动体用于设置于射线发生器和待测闪烁体之间且设置有用于使射线穿过的出射孔，转动体相对于射线发生器匀速转动以实现对待测闪烁体进行射线照射的通断控制，余辉探测器用于接收待测闪烁体的余辉。本实用新型的余辉测试装置通过控制转动体匀速转动以实现对待测闪烁体接收射线的通断控制，从而增加测试的稳定性。而且转动体匀速转动可使射线发生器发出的射线间隔穿过出射孔以间隔照射闪烁体，从而便于对闪烁体的余辉进行多次测试，提高余辉测试的准确性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利